简矽技术

IMPERATA

提供整套DFT解决方案，用于集成电路设计过程中实现测试和验证自动化，可协助设计人员提升芯片可测试性，缩减测试成本和时间

1. 拥有JTAG control/BSD/MBIST/ATPG的全流程

2. 支持IEEE1149.1& IEEE1687网络的自动化集成和验证

3. 支持BSD/MBIST测试向量的生成

4. 支持自动生成DFT architecture解决方案

Memory Optimizer

用于大规模数字集成电路片上存储器的PPA优化，即性能、功耗和面积，优化后显著提升片上存储器的性能、降低功耗、减少面积

1. 支持存储器列表输入，批量处理，效率更高

2. 图形化结果展示，简单易懂，详细结果文件输出，查询方便

3. 一键式操作，自动化程度高，简单易用

4. 内嵌经验模型，仅需少量必要信息，降低设计人员要求

5. 大数据全局优化，提升优化空间，结果更加精准

Soft IP Core

用于解决2.5DIC和3DIC的测试问题，相比于传统测试方法更简洁，更高效

1. 大幅加快和简化2.5DIC和3DIC的关键可测试设计任务

2. 大幅削减测试实施工作，优化制造测试成本

3. Soft IP很高的灵活性和适应性

DCT

Double die internal Connection Test pattern generation tool,用于双芯片互连测试，可根据芯片的BSDL文件快速生成Pattern文件，比以往的生成方式更加准确高效

1. 自动化生成测试向量，运行高效，降低成本

2. 参数可配置化，界面清晰，简单易操作

3. 简化测试流程，为企业节约成本

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